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JIMA分辨率測試卡 RT RC-04

點擊:7145 日期:2015.12.06
【摘要】JIMA分辨率測試卡 RT RC-04

目前,客戶可以從WorX公司購買新的JIMA(日本檢測儀器制造商協會)分辨率測試卡RT RC-04。新的測試卡可以用來檢測微焦點和納焦點X射線系統的最大分辨率。

JIMA分辨率測試卡RT RC-04,提供了23個測試區域,每個區域成T型的黑白條相間。利用RT RC-04,可以檢驗從0.1微米到10微米的分辨率,相對應的焦點尺寸是0.2微米到20微米,新的測試卡能夠滿足半導體行業的新要求,檢驗并校準這一工業領域的納焦點和微焦點X射線系統。

如果您對JIMA測試卡RT RC-04感興趣,請隨時與我們聯系,同時我們還供應RT RC-05和RT RC-02B。

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